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機(jī)構(gòu)所在地:河南省許昌市
檢測(cè)項(xiàng):上升時(shí)間 檢測(cè)樣品:耦合器/ 功分器 標(biāo)準(zhǔn):GJB 2650-1996 微波元器件性能測(cè)試方法
檢測(cè)項(xiàng):時(shí)間因數(shù) 及誤差 檢測(cè)樣品:耦合器/ 功分器 標(biāo)準(zhǔn):GJB 2650-1996 微波元器件性能測(cè)試方法
檢測(cè)項(xiàng):頻帶寬度 檢測(cè)樣品:耦合器/ 功分器 標(biāo)準(zhǔn):GJB 2650-1996 微波元器件性能測(cè)試方法
機(jī)構(gòu)所在地:四川省綿陽(yáng)市
檢測(cè)項(xiàng):邏輯低電壓水平 檢測(cè)樣品:光耦合器 標(biāo)準(zhǔn):(2)半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范 GB 12565-1990
檢測(cè)項(xiàng):電流傳輸比 檢測(cè)樣品:光耦合器 標(biāo)準(zhǔn):(2)半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范 GB 12565-1990
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測(cè)項(xiàng):正向電壓VF 檢測(cè)樣品:光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件
檢測(cè)項(xiàng):工作電壓VZ 檢測(cè)樣品:光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件
檢測(cè)項(xiàng):微分電阻rZ 檢測(cè)樣品:光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn):GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件
機(jī)構(gòu)所在地:湖南省長(zhǎng)沙市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:湖北省宜昌市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市